Репозиторий научных публикаций СКФУ: Browsing DSpace

Browsing by Subject Ellipsometry

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:

Showing results 1 to 3 of 3

Issue Date	Title	Author(s)
2019	Ellipsometry of magnetic fluid in a magnetic field	Yerin K. V.; Ерин, К. В.; Vivchar, V. I.; Вивчарь, В. И.
2021	Influence of coating thickness on the microstructure, composition and optical properties of aluminum nitride thin films grown on silicon substrates via low-temperature PEALD	Ambartsumov, M. G.; Амбарцумов, М. Г.; Tarala, V. A.; Тарала, В. А.; Nikova, M. S.; Никова, М. С.; Krandievsky, S. O.; Крандиевский, С. О.
2019	The dependence of aluminum nitride thin-film microstructure on the number of low-temperature plasma-enhanced atomic layer deposition process cycles	Ambartsumov, M. G.; Амбарцумов, М. Г.; Tarala, V. A.; Тарала, В. А.; Krandievsky, S. O.; Крандиевский, С. О.; Kravtsov, A. A.; Кравцов, А. А.; Saytiev, A. B.; Саутиев, А. Б.; Mitrofanenko, L. M.; Митрофаненко, Л. М.

Showing results 1 to 3 of 3