Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/15488
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorSankin, A. V.-
dc.contributor.authorСанкин, А. В.-
dc.contributor.authorAltukhov, V. I.-
dc.contributor.authorАлтухов, В. И.-
dc.date.accessioned2021-03-18T14:18:56Z-
dc.date.available2021-03-18T14:18:56Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationDadashev, R.K., Sankin, A.V., Altukhov, V.I., Safaraliev, G.K., Elimkhanov, D.Z., Antonov, V.F. Photo-, cathodic- And electroluminescence-band models in solid (SiC)1-x(AIN)xluminescence centers and SiC/SiC-AIN LEDs // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2021. - Volume 1064. - Issue 1. - Номер статьи 012009ru
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12258/15488-
dc.description.abstractThe paper presents models of bands (levels) in solid (SiC)1-x(AlN)x luminescence centers and n-SiC/p-(SiC)1-x(AlN)x heterostructures (light-emitting diodes). The diagram of (SiC)1-x(AlN)x energy gaps shows the positions of luminescence levels, subject to x. A SiC/SiC-AlN series of electroluminescence bands, for the first time, is found to have a continuous relationship between the positions of short-wave and long-wave band maxima in a K-minimum conduction band, respectively, as continuous functions of contact current densityru
dc.language.isoenru
dc.publisherIOP Publishing Ltdru
dc.relation.ispartofseriesIOP Conference Series: Materials Science and Engineering-
dc.subjectPhoto-, cathodic- and electroluminescence-band modelsru
dc.titlePhoto-, cathodic- And electroluminescence-band models in solid (SiC)1-x(AIN)xluminescence centers and SiC/SiC-AIN LEDsru
dc.typeСтатьяru
vkr.instИнститут сервиса, туризма и дизайна (филиал) СКФУ в г. Пятигорскеru
Располагается в коллекциях:Статьи, проиндексированные в SCOPUS, WOS

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
scopusresults 1610 .pdf
  Доступ ограничен
601.89 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.