Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/21531
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorMartens, V. Y.-
dc.contributor.authorМартенс, В. Я.-
dc.date.accessioned2022-10-27T14:37:23Z-
dc.date.available2022-10-27T14:37:23Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationMartens, V.Y. Positively charged electron beams // Vacuum. - 2022. - Том 203. - Номер статьи 111319. - DOI10.1016/j.vacuum.2022.111319ru
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12258/21531-
dc.description.abstractA condition has been found for a positively charged electron beam to be formed when secondary electrons, knocked out by the beam electrons from the collector, are present in the drift space. Two types of axially symmetric positively charged electron beams have been experimentally investigated: beams with the current density maximum located at the axis of the drift tube and beams with the current density maximum located at a distance from the axis. Estimates based on measurements of the radial potential distribution in the drift tube have shown that the excess positive ion charge created in the second case should be three times that in the first case. This can be explained by the accumulation of ions in the potential well formed inside an axially symmetric electron beam of the second type.ru
dc.language.isoenru
dc.publisherElsevier Ltdru
dc.relation.ispartofseriesVacuum-
dc.subjectElectron beamsru
dc.subjectSpace chargeru
dc.subjectGas ionizationru
dc.subjectIonsru
dc.subjectOvercompensationru
dc.subjectSecondary electronsru
dc.titlePositively charged electron beamsru
dc.typeСтатьяru
vkr.instФизико-технический факультетru
Располагается в коллекциях:Статьи, проиндексированные в SCOPUS, WOS

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
scopusresults 2274 .pdf
  Доступ ограничен
1.77 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
WoS 1429 .pdf
  Доступ ограничен
104.02 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.