Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25525
Title: Метрология, стандартизация и сертификация
Authors: Шевченко, И. М.
Ясная, М. А.
Блинов, А. В.
Блинова, А. А.
Испирян, А. Г.
Keywords: Метрология;Стандартизация;Сертификация
Issue Date: 2023
Citation: Метрология, стандартизация и сертификация: учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленностям (профилям): «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы»/ И. М. Шевченко, М. А. Ясная, А.В. Блинов, А. А. Блинова, А. Г. Испирян. – Ставрополь: Из-во СКФУ, 2023. – 86 с.
URI: http://hdl.handle.net/20.500.12258/25525
Appears in Collections:Учебники, учебные пособия, практикумы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Метрология, стандартизация и сертификация ЛП 28.03.02.pdf
  Restricted Access
2.85 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.