Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25525Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Шевченко, И. М. | - |
| dc.contributor.author | Ясная, М. А. | - |
| dc.contributor.author | Блинов, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Блинова, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Испирян, А. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2023-09-21T08:36:03Z | - |
| dc.date.available | 2023-09-21T08:36:03Z | - |
| dc.date.issued | 2023 | - |
| dc.identifier.citation | Метрология, стандартизация и сертификация: учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленностям (профилям): «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы»/ И. М. Шевченко, М. А. Ясная, А.В. Блинов, А. А. Блинова, А. Г. Испирян. – Ставрополь: Из-во СКФУ, 2023. – 86 с. | ru |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.12258/25525 | - |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.subject | Метрология | ru |
| dc.subject | Стандартизация | ru |
| dc.subject | Сертификация | ru |
| dc.title | Метрология, стандартизация и сертификация | ru |
| dc.type | Книга | ru |
| vkr.inst | Инженерный институт | ru |
| vkr.spec | 28.03.02 Наноинженерия «Диагностика материалов и наносистем в промышленности» | ru |
| Располагается в коллекциях: | Учебники, учебные пособия, практикумы | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| Метрология, стандартизация и сертификация ЛП 28.03.02.pdf Доступ ограничен | 2.85 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.