Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25525
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШевченко, И. М.-
dc.contributor.authorЯсная, М. А.-
dc.contributor.authorБлинов, А. В.-
dc.contributor.authorБлинова, А. А.-
dc.contributor.authorИспирян, А. Г.-
dc.date.accessioned2023-09-21T08:36:03Z-
dc.date.available2023-09-21T08:36:03Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationМетрология, стандартизация и сертификация: учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленностям (профилям): «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы»/ И. М. Шевченко, М. А. Ясная, А.В. Блинов, А. А. Блинова, А. Г. Испирян. – Ставрополь: Из-во СКФУ, 2023. – 86 с.ru
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12258/25525-
dc.language.isoruru
dc.subjectМетрологияru
dc.subjectСтандартизацияru
dc.subjectСертификацияru
dc.titleМетрология, стандартизация и сертификацияru
dc.typeКнигаru
vkr.instИнженерный институтru
vkr.spec28.03.02 Наноинженерия «Диагностика материалов и наносистем в промышленности»ru
Appears in Collections:Учебники, учебные пособия, практикумы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Метрология, стандартизация и сертификация ЛП 28.03.02.pdf
  Restricted Access
2.85 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.