Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25525| Title: | Метрология, стандартизация и сертификация |
| Authors: | Шевченко, И. М. Ясная, М. А. Блинов, А. В. Блинова, А. А. Испирян, А. Г. |
| Keywords: | Метрология;Стандартизация;Сертификация |
| Issue Date: | 2023 |
| Citation: | Метрология, стандартизация и сертификация: учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленностям (профилям): «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы»/ И. М. Шевченко, М. А. Ясная, А.В. Блинов, А. А. Блинова, А. Г. Испирян. – Ставрополь: Из-во СКФУ, 2023. – 86 с. |
| URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12258/25525 |
| Appears in Collections: | Учебники, учебные пособия, практикумы |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Метрология, стандартизация и сертификация ЛП 28.03.02.pdf Restricted Access | 2.85 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.