Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25531
Название: Методы диагностики и анализа наносистем
Авторы: Шевченко, И. М.
Ясная, М. А.
Блинов, А. В.
Блинова, А. А.
Испирян, А. Г.
Ключевые слова: Дагностика наносистем
Дата публикации: 2023
Библиографическое описание: Методы диагностики и анализа наносистем: учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки бакалавров 28.03.02 Наноинженерия, направленности (профиль) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности» / И. М. Шевченко, М. А. Ясная, А. В. Блинов, А. А. Блинова, А. Г. Испирян. – Ставрополь: Из-во СКФУ, 2023. – 186 с.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://hdl.handle.net/20.500.12258/25531
Располагается в коллекциях:Учебники, учебные пособия, практикумы

Файлы этого ресурса:
Файл РазмерФормат 
Методы диагностики и анализа наносистем ЛП.pdf
  Доступ ограничен
10.8 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.