Репозиторий научных и учебно-методических публикаций
Северо-Кавказский федеральный университет
Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25745| Title: | Основы спектроскопических методов исследования |
| Authors: | Тарала, В. А. Вакалов, Д. С. Амбарцумов, М. Г. Хорошилова, С. Э. Испирян, А. Г. |
| Keywords: | Спектроскопические методы исследования |
| Issue Date: | 2022 |
| Citation: | Основы спектроскопических методов исследования : учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки 28.03.02 Наноинженерия, по направленностям (профилям) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы»/ авт-сост. : В. А. Тарала, Д. С. Вакалов, М. Г. Амбарцумов, С. Э. Хорошилова, А. Г. Испирян. – Ставрополь : Из-во СКФУ, 2022. – 60 с |
| URI: | http://hdl.handle.net/20.500.12258/25745 |
| Appears in Collections: | Учебники, учебные пособия, практикумы |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Основы спектроскопических методов исследования ЛП.pdf Restricted Access | 1.39 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.