Репозиторий научных и учебно-методических публикаций
Северо-Кавказский федеральный университет
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25745Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Тарала, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Вакалов, Д. С. | - |
| dc.contributor.author | Амбарцумов, М. Г. | - |
| dc.contributor.author | Хорошилова, С. Э. | - |
| dc.contributor.author | Испирян, А. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2023-11-07T09:04:47Z | - |
| dc.date.available | 2023-11-07T09:04:47Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Основы спектроскопических методов исследования : учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки 28.03.02 Наноинженерия, по направленностям (профилям) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы»/ авт-сост. : В. А. Тарала, Д. С. Вакалов, М. Г. Амбарцумов, С. Э. Хорошилова, А. Г. Испирян. – Ставрополь : Из-во СКФУ, 2022. – 60 с | ru |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.12258/25745 | - |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.subject | Спектроскопические методы исследования | ru |
| dc.title | Основы спектроскопических методов исследования | ru |
| dc.type | Книга | ru |
| vkr.inst | Инженерный институт | ru |
| vkr.spec | 28.03.02 Наноинженерия «Диагностика материалов и наносистем в промышленности» | ru |
| Располагается в коллекциях: | Учебники, учебные пособия, практикумы | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| Основы спектроскопических методов исследования ЛП.pdf Доступ ограничен | 1.39 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.