Репозиторий научных и учебно-методических публикаций
Северо-Кавказский федеральный университет
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/25745| Название: | Основы спектроскопических методов исследования |
| Авторы: | Тарала, В. А. Вакалов, Д. С. Амбарцумов, М. Г. Хорошилова, С. Э. Испирян, А. Г. |
| Ключевые слова: | Спектроскопические методы исследования |
| Дата публикации: | 2022 |
| Библиографическое описание: | Основы спектроскопических методов исследования : учебное пособие (лабораторный практикум) : по направлению подготовки 28.03.02 Наноинженерия, по направленностям (профилям) «Диагностика материалов и наносистем в промышленности», «Нанотехнологии и наноматериалы»/ авт-сост. : В. А. Тарала, Д. С. Вакалов, М. Г. Амбарцумов, С. Э. Хорошилова, А. Г. Испирян. – Ставрополь : Из-во СКФУ, 2022. – 60 с |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://hdl.handle.net/20.500.12258/25745 |
| Располагается в коллекциях: | Учебники, учебные пособия, практикумы |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| Основы спектроскопических методов исследования ЛП.pdf Доступ ограничен | 1.39 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.