Репозиторий научных и учебно-методических публикаций
Северо-Кавказский федеральный университет
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/538Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Volkov, E. Y. | - |
| dc.contributor.author | Волков, Е. Ю. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-06-08T12:45:54Z | - |
| dc.date.available | 2018-06-08T12:45:54Z | - |
| dc.date.issued | 2017 | - |
| dc.identifier.citation | Jityaev, I.L., Svetlichnyi, A.M., Kolomiytsev, A.S., Volkov, Y.E., Polyakova, V.V., Ageev, O.A. Study of the field emission graphene/SiC nanostructures using scanning probe microscopy // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. - 2017. - Volume 256. - Issue 1. - статья № 012021. | ru |
| dc.identifier.uri | https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85034428005&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&nlo=1&nlr=20&nls=afprfnm-t&affilName=nort*+caucas*+fed*+univ*&sid=d5d8a0d301244722be90437f5b553481&sot=afnl&sdt=cl&cluster=scopubyr%2c%222017%22%2ct&sl=53&s=%28AF-ID%28%22North+Caucasus+Federal+University%22+60070541%29%29&relpos=18&citeCnt=0&searchTerm= | - |
| dc.identifier.uri | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/538 | - |
| dc.description.abstract | We investigated the topology and electrical characteristics of the field emission graphene/SiC nanostructures using scanning probe microscopy. The effect of design of graphene/SiC nanostructures on field emission properties was estimated. The current-voltage characteristics were measured at different rounding-off radii of the emitting top and the interelectrode distances | ru |
| dc.language.iso | en | ru |
| dc.publisher | Institute of Physics Publishing | ru |
| dc.relation.ispartofseries | IOP Conference Series: Materials Science and Engineering | - |
| dc.subject | Current voltage characteristics | ru |
| dc.subject | Field emission | ru |
| dc.subject | Graphene | ru |
| dc.subject | Hydrophobicity | ru |
| dc.subject | Nanostructures | ru |
| dc.subject | Scanning probe microscopy | ru |
| dc.title | Study of the field emission graphene/SiC nanostructures using scanning probe microscopy | ru |
| dc.type | Статья | ru |
| vkr.inst | Инженерный институт | - |
| Располагается в коллекциях: | Статьи, проиндексированные в SCOPUS, WOS | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| scopusresults (82).pdf Доступ ограничен | 62.58 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть | |
| WoS 50 .pdf Доступ ограничен | 554.87 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.