Репозиторий научных и учебно-методических публикаций
Северо-Кавказский федеральный университет
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/11217| Название: | Resonant-frequency properties of low-dimensional junction of semiconductor-metal-semiconductor and calculation methodology |
| Авторы: | Valyukhov, D. P. Валюхов, Д. П. Baklanov, I. S. Бакланов, И. С. Shtab, E. V. Штаб, Э. В. Shtab, A. V. Штаб, А. В. Pigulev, R. V. Пигулев, Р. В. Iliasov, A. S. Ильясов, А. Ш. |
| Ключевые слова: | Semiconducting silicon compounds;Silver compounds;Research laboratories;Metals;Natural frequencies;Ohmic contacts;Quality control |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Institute of Physics Publishing |
| Библиографическое описание: | Valiukhov, D.P., Baklanov, I.S., Shtab, E.V., Shtab, A.V., Pigulev, R.V., Iliasov, A.S. Resonant-frequency properties of low-dimensional junction of semiconductor-metal-semiconductor and calculation methodology // Journal of Physics: Conference Series. - 2019. - Volume 1384. - Issue 1. - Номер статьи 012002 |
| Источник: | Journal of Physics: Conference Series |
| Краткий осмотр (реферат): | The article describes frequency characteristics of semiconductor-metal-semiconductor Si-Ag-Si structures (ohmic contacts) having metal nanolayers as well as features of resonance phenomenon and sandwich structure energy interaction. Mathematical simulation of mentioned above processes is provided. The limiting factor for resonance process is determined. It is found that the resonance frequency is a subject of semiconductor-metal junction parameters while metal layer thickness impact is minor |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-85077954308&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&st1=Resonant-frequency+properties+of+low-dimensional+junction+of+semiconductor-metal-semiconductor+and+calculation+methodology&st2=&sid=06bfe297a5d6aa23ab9ecf239eeb9ff0&sot=b&sdt=b&sl=137&s=TITLE-ABS-KEY%28Resonant-frequency+properties+of+low-dimensional+junction+of+semiconductor-metal-semiconductor+and+calculation+methodology%29&relpos=0&citeCnt=0&searchTerm= http://hdl.handle.net/20.500.12258/11217 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи, проиндексированные в SCOPUS, WOS |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|
| scopusresults 1157 .pdf Доступ ограничен | 823.96 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.