Browsing by Author Ambartsumov, M. G.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я or enter first few letters:  
Showing results 1 to 5 of 5
Issue DateTitleAuthor(s)
2016Growing c-axis oriented aluminum nitride films by plasma-enhanced atomic layer deposition at low temperaturesTarala, V. A.; Тарала, В. А.; Ambartsumov, M. G.; Амбарцумов, М. Г.; Altakhov, A. S.; Алтахов, А. С.; Martens, V. Y.; Мартенс, В. Я.; Shevchenko, M. Y.; Шевченко, М. Ю.
2017Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer depositionTarala, V. A.; Тарала, В. А.; Altakhov, A. S.; Алтахов, А. С.; Ambartsumov, M. G.; Амбарцумов, М. Г.; Martens, V. Y.; Мартенс, В. Я.
2016Growth of heteroepitaxial aluminium nitride films on aluminium oxide substrates via PEALD methodTarala, V. A.; Тарала, В. А.; Altakhov, A. S.; Алтахов, А. С.; Ambartsumov, M. G.; Амбарцумов, М. Г.; Martens, V. Y.; Мартенс, В. Я.; Shevchenko, M. Y.; Шевченко, М. Ю.
2019The dependence of aluminum nitride thin-film microstructure on the number of low-temperature plasma-enhanced atomic layer deposition process cyclesAmbartsumov, M. G.; Амбарцумов, М. Г.; Tarala, V. A.; Тарала, В. А.; Krandievsky, S. O.; Крандиевский, С. О.; Kravtsov, A. A.; Кравцов, А. А.; Saytiev, A. B.; Саутиев, А. Б.; Mitrofanenko, L. M.; Митрофаненко, Л. М.
2020X-ray diffraction analysis of ysag:Yb ceramic powders with different stoichiometryNikova, M. S.; Никова, М. С.; Vakalov, D. S.; Вакалов, Д. С.; Tarala, V. A.; Тарала, В. А.; Chikulina, I. S.; Чикулина, И. С.; Malyavin, F. F.; Малявин, Ф. Ф.; Ambartsumov, M. G.; Амбарцумов, М. Г.